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本发明涉及芯片测试技术领域，具体的说是一种支持高温运行试验的芯片测试设备，包括支撑底座、支撑安装框、调节部、密封盖、检测部、安装槽、第一电加热板和第二电加热板,安装槽开设在支撑安装框的内部，第一电加热板和第二电加热板均匀分布在支撑安装框的内...
该专利属于程标四所有，仅供学习研究参考，未经过程标四授权不得商用。

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