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本发明公开一种半导体结构的制造方法，包括以下步骤。提供基底。基底包括第一区与第二区。在第一区中的基底上形成第一介电层。在第二区中的基底上形成第二介电层。在第一介电层上形成第一栅极。在第二介电层上形成第二栅极。在第一栅极的侧壁上形成第一间隙壁...
该专利属于力晶积成电子制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过力晶积成电子制造股份有限公司授权不得商用。

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