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本实用新型涉及芯片技术领域，具体涉及一种用于芯片封装测试的自动分类装置。本实用新型提供一种能有效对不同芯片进行自动分类的用于芯片封装测试的自动分类装置。本实用新型提供了这样一种用于芯片封装测试的自动分类装置，包括有支撑座、滑轨、检测仪和推块...
该专利属于江西省吉晶微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江西省吉晶微电子有限公司授权不得商用。

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