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本发明公开了一种用于评估BTI效应的可测试性设计电路，包括：多个应激产生器。应激产生器包括多个输入端和多个输出端，输出端连接到待测试器件的栅极。应激产生器为一逻辑电路。在应激模式下，应激输入信号从频率信号、第一直流电压和第二直流电压中选择，...
该专利属于上海华力集成电路制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力集成电路制造有限公司授权不得商用。

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