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本实用新型公开了一种IC芯片测试机用高效翻转上料机构，涉及芯片测试领域，包括上料斜台以及开设在上料斜台倾斜面上的上料通道，所述上料通道的内部中间转动安装有旋转筒，所述旋转筒的中部沿着上料通道的方向开设有过道腔，所述过道腔的下表面与上料通道槽...
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