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一种基于改进YOLOv5的PCB板表面缺陷检测方法技术
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文档序号:36706538
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本发明公开了一种基于改进YOLOv5的PCB板表面缺陷检测方法,改进YOLOv5的特征融合网络PANet为BiFPN结构,且添加了SimAM注意力机制,对空间金字塔池化模型SPPF优化后为SPPFCSPC模型,并且缩减了head中用于检测中...
该专利属于西北工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过西北工业大学授权不得商用。
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