下载叠片电芯包覆检测方法、装置、设备及存储介质的技术资料

文档序号:36706286

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本申请提供一种叠片电芯包覆检测方法、装置、设备及存储介质。该方法应用于检测处理器,检测处理器连接至少两个包覆检测组件,包覆检测组件包括位于叠片电芯同一角位两侧的两对射线源、探测器,射线源的射线方向与叠片电芯相近的边缘之间的夹角小于预设检测角...
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