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本实用新型公开一种高效芯片测试装置，包括：柜体，所述柜体的前、后两侧均可抽拉地安装有若干个抽屉，每个所述抽屉的上表面开设有用于放置待测试芯片的芯片槽，所述柜体底部设置有一底板，该底板下表面的四个拐角处设置有与地面接触的底脚，所述底板的上表面...
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