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本发明一种芯片温度循环老化测试台、关键座及测试方法涉及芯片桌面级高温老化测试技术领域，所述的测试台包括:基座、滑座、连接架、加热插座、降温插座和芯片座，所述基座上滑动设置有四个滑座，相邻两个滑座之间均设置有一个连接架，四个所述连接架其中的两...
该专利属于法特迪精密科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过法特迪精密科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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