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一种应用于光学元件多表面检测的抗振方法技术
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文档序号:36692009
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本发明涉及一种应用于光学元件多表面检测的抗振方法,该方法包括条纹图像筛选算法、图像相位修正算法,其特征在于,所述条纹图像筛选算法根据图像上若干空间点的灰度变化,分别计算各腔长产生信号的中心频率,计算多个信号的相位分布,并根据各个信号的相位分...
该专利属于上海乾曜光学科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海乾曜光学科技有限公司授权不得商用。
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