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本发明公开了一种基于单像素成像双目偏折术的物体形貌测量方法，包括：步骤S1：基于傅里叶单像素成像原理以及傅里叶中心切片产生多幅水平和垂直的傅里叶基频条纹图像；步骤S2：通过显示屏显示生成的多幅水平和垂直傅里叶基频条纹图案，并通过相机采集经过...
该专利属于湖南大学所有，仅供学习研究参考，未经过湖南大学授权不得商用。

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