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本实用新型公开了防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，包括定位底座和治具主体，治具主体与定位底座之间设置有定位机构，定位机构包括两组定位块和定位导向块，两组定位块平行间隔设置于定位底座的顶端，每组定位块为两个且呈对称设置，定位导向块固定设置...
该专利属于恩普千睿电子科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩普千睿电子科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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