防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具制造技术

本实用新型专利技术公开了防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，包括定位底座和治具主体，治具主体与定位底座之间设置有定位机构，定位机构包括两组定位块和定位导向块，两组定位块平行间隔设置于定位底座的顶端，每组定位块为两个且呈对称设置，定位导向块固定设置于治具主体底端的中部，定位导向块底端两侧均开设有定位孔，同一组两个定位块的顶端均固定设置有与定位孔活动穿插的定位杆。本实用新型专利技术利用治具本体上定位导向块、定位孔和定位底座上定位块、定位杆的配合，能够有效的解决检测治具使用的卡顿现象，同时定位导向块设置呈单体式结构，能够进行独立拆装更换，从而使整个检测治具的使用寿命更长。具的使用寿命更长。具的使用寿命更长。

【技术实现步骤摘要】
防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具


[0001]本技术涉及检测治具
，特别涉及防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具。

技术介绍

[0002]在IC芯片的生产过程中，需要实用检测治具对IC芯片进行定位检测，检验IC芯片的质量是否达到合格要求，但现今使用的检测治具容易出现卡顿，同时由于频繁调动使得检测治具磨损严重，从而造成检测治具的使用寿命较短。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，包括定位底座和治具主体，所述治具主体与定位底座之间设置有定位机构；
[0005]所述定位机构包括两组定位块和定位导向块，两组所述定位块平行间隔设置于定位底座的顶端，每组所述定位块为两个且呈对称设置，所述定位导向块固定设置于治具主体底端的中部，所述定位导向块底端两侧均开设有定位孔，同一组两个所述定位块的顶端均固定设置有与定位孔活动穿插的定位杆。
[0006]优选的，所述定位底座的顶端间隔开设有两个第一条形开槽，所述定位底座的顶端间隔开设有四个第二条形开槽，所述第二条形开槽与第一条形开槽呈相互垂直设置，所述定位底座的顶端且位于第一条形开槽和第二条形开槽的交叉位置设置有卡槽。
[0007]优选的，所述治具主体的底端呈句型阵列设置有四个十字插头，四个所述十字插头分别与对应位置的卡槽活动穿插设置，所述治具主体的两侧均设置有用于IC芯片定位的定位夹具。
[0008]优选的，四个所述十字插头的外部均穿插设置有安装板，所述安装板和定位导向块均通过设置的螺栓与安装座固定设置。
[0009]优选的，四个所述十字插头的外壁穿插设置有限位块，所述限位块位于安装板和安装座之间位置处。
[0010]优选的，所述定位底座底端的边角处均设置有底脚组件，所述底脚组件包括与定位底座底端固定的螺杆，所述螺杆外壁底部螺纹套接有内螺纹管，所述内螺纹管的底端固定设置有底板，所述底板的底端固定设置有缓冲垫。
[0011]本技术的技术效果和优点：
[0012](1)本技术利用治具本体上定位导向块、定位孔和定位底座上定位块、定位杆的配合，能够有效的解决检测治具使用的卡顿现象，同时定位导向块设置呈单体式结构，能够进行独立拆装更换，从而使整个检测治具的使用寿命更长；
[0013](2)本技术利用定位底座底端由螺杆、内螺纹管、底板和缓冲垫组成的底脚组
件，不仅能够保持定位底座水平稳定放置，同时还具备对定位底座的消音缓冲、高度调节的作用，使得检测治具的使用更加高效便捷。
附图说明
[0014]图1为本技术整体结构示意图。
[0015]图2为本技术俯视结构示意图。
[0016]图3为本技术治具主体立体结构示意图。
[0017]图4为本技术治具主体侧面剖视结构示意图。
[0018]图5为本技术定位底座仰视结构示意图。
[0019]图6为本技术底脚组件立体结构示意图。
[0020]图中：1、定位底座；11、第一条形开槽；12、第二条形开槽；13、卡槽；14、定位块；15、定位杆；16、底脚组件；161、螺杆；162、内螺纹管；163、底板；164、缓冲垫；2、治具主体；21、安装座；22、定位夹具；23、安装板；24、十字插头；25、限位块；26、定位导向块；27、定位孔。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]本技术提供了如图1
‑
6所示的防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，包括定位底座1和治具主体2，治具主体2与定位底座1之间设置有定位机构；
[0023]定位机构包括两组定位块14和定位导向块26，两组定位块14平行间隔设置于定位底座1的顶端，每组定位块14为两个且呈对称设置，定位导向块26固定设置于治具主体2底端的中部，定位导向块26为耐磨高强度材质，能够延长其使用寿命，采用定位导向块26单独作为治具主体2的定位导向结构，相较于在安装板23上开设导向孔，要更加提升定位底座1和治具主体2之间的卡顿现象，定位导向块26底端两侧均开设有定位孔27，同一组两个定位块14的顶端均固定设置有与定位孔27活动穿插的定位杆15，利用定位孔27与定位杆15活动穿插，能够准确快速的进行治具主体2在定位底座1上的定位；
[0024]定位底座1的顶端间隔开设有两个第一条形开槽11，定位底座1的顶端间隔开设有四个第二条形开槽12，第二条形开槽12与第一条形开槽11呈相互垂直设置，定位底座1的顶端且位于第一条形开槽11和第二条形开槽12的交叉位置设置有卡槽13，第一条形开槽11和第二条形开槽12的交叉处进行卡槽13的设置，方便治具主体2上的十字插头24进行定位安装，同时便于沿着第一条形开槽11或第二条形开槽12进行平移；
[0025]治具主体2的底端呈句型阵列设置有四个十字插头24，四个十字插头24分别与对应位置的卡槽13活动穿插设置，四个十字插头24的外部均穿插设置有安装板23，安装板23和定位导向块26均通过设置的螺栓与安装座21固定设置，四个十字插头24的外壁穿插设置有限位块25，限位块25位于安装板23和安装座21之间位置处，利用限位块25对十字插头24在安装座21上进行限位，然后配合安装板23使用螺栓与安装座21进行固定，从而将十字插头24快速稳固的固定在安装座21底端，安装简便，同时拆卸便捷，治具主体2的两侧均设置
有用于IC芯片定位的定位夹具22，用于对治具主体2上放置的IC芯片进行夹持固定，保持IC芯片定位的稳固；
[0026]定位底座1底端的边角处均设置有底脚组件16，底脚组件16包括与定位底座1底端固定的螺杆161，螺杆161外壁底部螺纹套接有内螺纹管162，内螺纹管162的底端固定设置有底板163，底板163的底端固定设置有缓冲垫164，利用底板163和缓冲垫164，能够对定位底座1支撑的同时起到一个缓冲作用，同时螺杆161和内螺纹管162之间利用螺纹连接实现长度调节，以达到对不同底脚组件16长度调节，以便于适应放置面不平整时，保持定位底座1的平整放置。
[0027]本技术工作原理：在治具主体2的使用时，将安装座21底端的定位导向块26通过其上的定位孔27与定位底座1上位于同一组的两个定位块14上的定位杆15插接，即可快速进行定位底座1与治具主体2之间的定位，有效的避免治具主体2与定位底座1之间的卡顿，同时定位导向块26通过螺栓单独安装于安装座21的底端中部，使得定位导本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，包括定位底座(1)和治具主体(2)，其特征在于，所述治具主体(2)与定位底座(1)之间设置有定位机构；所述定位机构包括两组定位块(14)和定位导向块(26)，两组所述定位块(14)平行间隔设置于定位底座(1)的顶端，每组所述定位块(14)为两个且呈对称设置，所述定位导向块(26)固定设置于治具主体(2)底端的中部，所述定位导向块(26)底端两侧均开设有定位孔(27)，同一组两个所述定位块(14)的顶端均固定设置有与定位孔(27)活动穿插的定位杆(15)。2.根据权利要求1所述的防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，其特征在于，所述定位底座(1)的顶端间隔开设有两个第一条形开槽(11)，所述定位底座(1)的顶端间隔开设有四个第二条形开槽(12)，所述第二条形开槽(12)与第一条形开槽(11)呈相互垂直设置，所述定位底座(1)的顶端且位于第一条形开槽(11)和第二条形开槽(12)的交叉位置设置有卡槽(13)。3.根据权利要求1所述的防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，其特征在于，所述治具主体(2)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵德全，
申请(专利权)人：恩普千睿电子科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：