防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具制造技术

本实用新型专利技术公开了防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，包括定位底座和治具主体，治具主体与定位底座之间设置有定位机构，定位机构包括两组定位块和定位导向块，两组定位块平行间隔设置于定位底座的顶端，每组定位块为两个且呈对称设置，定位导向块固定设置于治具主体底端的中部，定位导向块底端两侧均开设有定位孔，同一组两个定位块的顶端均固定设置有与定位孔活动穿插的定位杆。本实用新型专利技术利用治具本体上定位导向块、定位孔和定位底座上定位块、定位杆的配合，能够有效的解决检测治具使用的卡顿现象，同时定位导向块设置呈单体式结构，能够进行独立拆装更换，从而使整个检测治具的使用寿命更长。具的使用寿命更长。具的使用寿命更长。

【技术实现步骤摘要】
防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具


[0001]本技术涉及检测治具
，特别涉及防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具。

技术介绍

[0002]在IC芯片的生产过程中，需要实用检测治具对IC芯片进行定位检测，检验IC芯片的质量是否达到合格要求，但现今使用的检测治具容易出现卡顿，同时由于频繁调动使得检测治具磨损严重，从而造成检测治具的使用寿命较短。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，包括定位底座和治具主体，所述治具主体与定位底座之间设置有定位机构；
[0005]所述定位机构包括两组定位块和定位导向块，两组所述定位块平行间隔设置于定位底座的顶端，每组所述定位块为两个且呈对称设置，所述定位导向块固定设置于治具主体底端的中部，所述定位导向块底端两侧均开设有定位孔，同一组两个所述定位块的顶端均固定设置有与定位孔活动穿插的定位杆。r/>[0006]优本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，包括定位底座(1)和治具主体(2)，其特征在于，所述治具主体(2)与定位底座(1)之间设置有定位机构；所述定位机构包括两组定位块(14)和定位导向块(26)，两组所述定位块(14)平行间隔设置于定位底座(1)的顶端，每组所述定位块(14)为两个且呈对称设置，所述定位导向块(26)固定设置于治具主体(2)底端的中部，所述定位导向块(26)底端两侧均开设有定位孔(27)，同一组两个所述定位块(14)的顶端均固定设置有与定位孔(27)活动穿插的定位杆(15)。2.根据权利要求1所述的防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，其特征在于，所述定位底座(1)的顶端间隔开设有两个第一条形开槽(11)，所述定位底座(1)的顶端间隔开设有四个第二条形开槽(12)，所述第二条形开槽(12)与第一条形开槽(11)呈相互垂直设置，所述定位底座(1)的顶端且位于第一条形开槽(11)和第二条形开槽(12)的交叉位置设置有卡槽(13)。3.根据权利要求1所述的防卡顿和磨损的IC芯片一体式检测治具，其特征在于，所述治具主体(2)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵德全，
申请(专利权)人：恩普千睿电子科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：