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本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种VCSEL测试治具，解决了现有技术中在待检芯片是通过人工放置于测试工位，在上下料过程中不可避免的会出现待检芯片放置位置偏移、放置深度不一、部分测试工位漏放等现象，导致固定机构在对待检芯片进行定位的过程中，...
该专利属于柯泰光芯（常州）测试技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过柯泰光芯（常州）测试技术有限公司授权不得商用。

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