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本申请提供了一种集成电路的布图方法及装置、存储介质、终端设备，集成电路的布图方法包括：获取多个布局对象的布局结果，布局结果表示多个布局对象在多个工艺层的布局区域内的一次布局，布局对象为标准单元或标准单元内的子结构；根据布局结果构建布线节点，...
该专利属于全芯智造技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过全芯智造技术有限公司授权不得商用。

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