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本发明涉及一种原位测量材料微结构演变的设备及方法，其包括：脉冲电源，所述脉冲电源的正负极分别用于电连接待测产品的正负极；放射源，所述放射源用于向所述待测产品射出正电子；以及探测分析单元，所述探测分析单元用于探测所述放射源向所述待测产品射出正...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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