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本发明公开一种芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法，选择测试服务器的测试结果数据所要存储的路径；确定测试报告表的关键属性，测报程序根据关键属性信息，自动地从大批量测试结果数据中，采用一定的算法，获得所要的测试数据；根据不同的测试芯片的产品类...
该专利属于上海旻艾半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海旻艾半导体有限公司授权不得商用。

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