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本发明公开了一种高温动态芯片测试精密装置，包括：测试座、直线模组和合模组件；所述测试座内设置有控温模组，所述合模组件上设置有探针和接入嘴。本发明通过转塔吸嘴吸取Die芯片并放置到测试座上，测试座通过直线模组携带着Die芯片向合模组件处移动，...
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