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本申请涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种温度测试装置及芯片测试分选机。该芯片环境温度测试装置包括吸嘴固定机构和对应吸嘴的端部设置的测试组件，吸嘴的端部露出吸嘴固定机构的表面设置，测试组件包括相连接的温度传感机构和弹性件，弹性件能够驱动温度传...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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