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本实用新型提供一种用于芯片定位的浮动测试插座，包括测试底座(1)和测试波导(21)；所述测试底座(1)的顶部开设有一凹槽(3)；所述测试波导(21)设置在所述凹槽(3)的底部；所述测试波导(21)的边沿上设有定位销(4)。本实用新型所述的用...
该专利属于上海芯义恒科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯义恒科技有限公司授权不得商用。

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