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本发明公开了一种半导体芯片萃盘全自动智能瑕疵检测设备，包括机架，所述机架上安装有上料仓组件，所述机架位于上料仓组件一侧安装有分料机构，所述机架位于上料仓组件另一侧安装有检测治具，所述机架位于检测治具后方安装有分选机构，所述分选机构上安装有检...
该专利属于智翼博智能科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过智翼博智能科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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