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本实用新型公开了一种用于半导体芯片射频测试的夹具，涉及射频测试夹具技术领域，包括夹具盖，所述夹具盖的底部活动连接有活动块，所述活动块的底部活动连接有夹具底座，所述夹具盖的顶部固定连接有卡扣，所述夹具盖的表面套接有夹具板，所述夹具板的表面活动...
该专利属于弘润半导体（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过弘润半导体（苏州）有限公司授权不得商用。

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