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本实用新型公开了一种集成电路芯片检测装置，涉及集成电路芯片检测技术领域。本实用新型包括芯片检测装置本体、驱动部，芯片检测装置本体两端均开设有通槽口，通槽口内底部安装有第一连接部，第一连接部上转动连接有检修盖板，驱动部输出端固定有驱动丝杆，驱...
该专利属于上海亘存科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海亘存科技有限责任公司授权不得商用。

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