下载芯片老化测试的控温平台及自动化生产设备的技术资料

文档序号:36426376

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本申请涉及芯片老化测试的控温平台及自动化生产设备;施力面板结构及探针基座分别固定于加热与散热一体化基座的两端,加热与散热一体化基座以装载待老化测试的芯片;借力杠杆用于通过连接件与连接器相抵接;加热管与过热保护开关串联设置,且加热管穿过探针基...
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