温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开一种生成静态最优电压值表的方法，本方法归纳SSD从寿命初期到末期所有影响到NAND的因素，将多个SSD进行加速磨损，以观察SSD从寿命初期到末期NAND所经历的变化，在一定寿命时期，混合其他影响因素，使用不同NAND电压读取每个b...
该专利属于山东华芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东华芯半导体有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。