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本发明属于芯片技术领域，公开了一种芯片可靠性测试装置的测试方法和系统，方法包括如下步骤：根据若干个所述芯片构件和若干个所述器件单元设计至少一种测试结构，且每个所述芯片构件至少与一种所述测试结构对应，每个所述器件单元至少与一种所述测试结构对应...
该专利属于杭州朔天科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州朔天科技有限公司授权不得商用。

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