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本发明公开了一种基于阵列探测的短波长特征X射线衍射测量装置，以及基于该装置的测量分析方法。该衍射测量装置的阵列探测器只探测接收源自于样品被测部位物质衍射且通过接收准直器的通光孔的衍射线，和通过接收准直器的通光孔的其它杂散线，以及通过定位孔的...
该专利属于中国兵器工业第五九研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国兵器工业第五九研究所授权不得商用。

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