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本实用新型公开一种双温芯片测试分选设备，包括：机台、托盘供料器、移载机械手、测试机构、以及预热机构，移载机械手悬于托盘供料器、测试机构以及预热机构的上方，移载机械手包括：X轴移动模组、Y轴移动模组、取料支架、Z轴移动模组、取料升降支架、以及...
该专利属于深圳市杰航科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市杰航科技有限公司授权不得商用。

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