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本发明公开了一种自动识别NAND测试模式和产品模式的方法及NAND芯片，通过在NAND芯片中预置用于固件识别的标志数据，当NAND芯片上电开始初始化时，利用NAND芯片中内置的固件即可控制读取标志数据，判断标志数据是否符合判定标准，并根据不...
该专利属于仲联半导体（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过仲联半导体（上海）有限公司授权不得商用。

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