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一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法，包括步骤：将起偏器、检偏器和光强探测器沿光路方向同光轴放置；标定同光轴放置后的0
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该专利属于上海镭望光学科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海镭望光学科技有限公司授权不得商用。

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