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本发明提供了一种光通讯芯片的缺陷检测方法、系统、电子装置及存储介质，包括获取用户的模板检索指令，检测预先设置的模板库里是否设置有所检索的检测模板；若是，则使用检测模板对芯片进行拍摄得到目标检测图像，并转至缺陷检测步骤；若否，则转至检测条件建...
该专利属于深圳格芯集成电路装备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳格芯集成电路装备有限公司授权不得商用。

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