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本发明公开了一种可编程逻辑器件虚焊检测装置及检测方法，将可编程逻辑器件的所有I/O管脚电位拉高，并使可编程逻辑器件所在的印制板持续振动一段时间，同时可编程逻辑器件运行测试程序检测是否有可编程逻辑器件的I/O管脚电位降低，若检测到有I/O管脚...
该专利属于中国电子科技集团公司第二十七研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第二十七研究所授权不得商用。

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