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本申请提供一种电容检测方法，用于电容检测装置，该方法包括：获取检测通道在第一环境状态中第一工作模式下的第一电容测量值和第二工作模式下的第二电容测量值；获取检测通道在第二环境状态中第一工作模式下的第三电容测量值和第二工作模式下的第四电容测量值...
该专利属于上海艾为电子技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海艾为电子技术股份有限公司授权不得商用。

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