电容检测方法及电容检测装置制造方法及图纸

技术编号:36093904 阅读:29 留言:0更新日期:2022-12-24 11:11
本申请提供一种电容检测方法,用于电容检测装置,该方法包括:获取检测通道在第一环境状态中第一工作模式下的第一电容测量值和第二工作模式下的第二电容测量值;获取检测通道在第二环境状态中第一工作模式下的第三电容测量值和第二工作模式下的第四电容测量值;根据所获取的多个电容测量值之间的差值,确定检测通道与驱动通道之间电容的电容测量变化值和检测通道的电容测量变化值,确定补偿后的检测通道的电容测量值。采用上述技术方案,能够校正由于环境变化所引起的电容变化,从而确保电容检测精度,避免发生误判。本申请还提供一种电容检测装置。种电容检测装置。种电容检测装置。

【技术实现步骤摘要】
电容检测方法及电容检测装置


[0001]本申请涉及触摸检测领域,特别涉及一种电容检测方法及电容检测装置。

技术介绍

[0002]电容式传感器是将被测物理量或机械量转换成为电容量变化的一种转换装置,电容式传感器由于结构简单、性能稳定、灵敏度高等优点被广泛应用到工业及消费类电子产品领域,如:压力、位移、加速度、厚度、液位等测量。
[0003]电容式传感器的基本工作原理:通过电容检测电路,可把传感器电容的变化量转换为电信号输出。测知电信号的大小,可判断被测量的大小。
[0004]为了尽量减小环境(温度、湿度等)变化对电容检测值的影响,降低电容检测精度,尤其是由于环境变化所引起的误判,需要能够抑制由于环境变化所引起的电容变化的电容检测方案。

技术实现思路

[0005]本申请的一些实施方式提供了一种电容检测方法及电容检测装置,以下从多个方面介绍本申请,以下多个方面的实施方式和有益效果可互相参考。
[0006]第一方面,本申请实施例提供了一种电容检测方法,用于电容检测装置,该方法包括:获取检测通道在第一环境状态中第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电容检测方法,用于电容检测装置,其特征在于,该方法包括:获取检测通道在第一环境状态中第一工作模式下的第一电容测量值和第二工作模式下的第二电容测量值,其中,所述第一工作模式包括在所述检测通道通过激励电压信号对所述待检测电容进行电容检测时,在驱动通道上施加与所述检测通道一致的电压信号;所述第二工作模式包括在检测通道通过激励电压信号对所述待检测电容进行电容检测时,在驱动通道上施加接地电压信号;所述检测通道包括用于连接所述待检测电容与所述电容检测装置的走线,且所述驱动通道的一端与所述电容检测装置连接,另一端浮置;获取所述检测通道在第二环境状态中所述第一工作模式下的第三电容测量值和所述第二工作模式下的第四电容测量值,其中,所述第二环境状态与所述第一环境状态的环境参数不同;根据所述第二电容测量值与所述第一电容测量值之间的差值和所述第四电容测量值与所述第三电容测量值之间的差值,确定所述检测通道与所述驱动通道之间电容的电容测量变化值;根据所述第一电容测量值与所述第三电容测量值之间的差值,确定所述检测通道的电容测量变化值;根据所述检测通道的电容测量变化值和所述检测通道与所述驱动通道之间电容的电容测量变化值,确定补偿后的所述检测通道的电容测量值。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测通道与所述驱动通道之间电容至少包括如下一种:所述检测通道与所述驱动通道之间的寄生电容、与所述检测通道和所述驱动通道连接的电容。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述第二电容测量值与所述第一电容测量值之间的差值和所述第四电容测量值与所述第三电容测量值之间的差值,确定所述检测通道与所述驱动通道之间电容的电容测量变化值,包括:获取所述第二电容测量值与所述第一电容测量值之间的第一差值;获取所述第四电容测量值与所述第三电容测量值之间的第二差值;计算所述第一差值与所述第二差值之间的第三差值;根据所述第三差值确定所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:程涛高红玉
申请(专利权)人:上海艾为电子技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1