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本发明涉及三维重建技术领域，具体涉及一种基于掩膜切割部署的质量图引导相位展开方法，利用包裹相位图的相位导数方差作为初始相位质量图，并根据初始相位质量图生成残差点分布图，再结合两者生成掩模切割线，将掩膜切割部署引入质量图引导算法中，生成新的质...
该专利属于桂林电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过桂林电子科技大学授权不得商用。

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