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本发明涉及一种利用离子束加工X射线复合折射透镜的方法，包括：根据所需的X射线复合折射透镜的厚度，选择若干基底，并根据基底尺寸和透镜参数制作掩膜；将其中一份基底作为样品，在样品上标记出采样点，并测量出各采样点的第一表面面形；使用离子源轰击采样...
该专利属于中国科学院上海高等研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海高等研究院授权不得商用。

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