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用于优化的干涉散射显微镜的方法和装置制造方法及图纸
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文档序号:36068279
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一种通过干涉散射显微镜对样品成像的方法,该方法包括:使用至少一个光源对样品进行照射,样品被保持在包括反射表面的样品位置处,使得形成反射信号,反射信号包括来自所述光源的光以及由所述样品散射的光;在第一帧N1的第一时间窗中检测输出光;在第二帧N...
该专利属于雷费恩有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过雷费恩有限公司授权不得商用。
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