用于优化的干涉散射显微镜的方法和装置制造方法及图纸

一种通过干涉散射显微镜对样品成像的方法，该方法包括：使用至少一个光源对样品进行照射，样品被保持在包括反射表面的样品位置处，使得形成反射信号，反射信号包括来自所述光源的光以及由所述样品散射的光；在第一帧N1的第一时间窗中检测输出光；在第二帧N2的第二时间窗中检测输出光；计算比率测量信号R，R为N1与N2的比减去1；根据帧N1和N2估计比率测量运动特征S＝(S

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于优化的干涉散射显微镜的方法和装置


[0001]本专利技术涉及用于优化的干涉散射显微镜(Interferometric Scattering microscopy，在此被称为IScat)的方法和装置。

技术介绍

[0002]IScat已经成为一种强大的方法，其可用于具有独特的时空分辨率和低至单分子水平的无标记灵敏度的单粒子跟踪，并且还可用于通过质量光度法和质量成像法测定单粒子质量。
[0003]例如，在Kukura等人的“单个病毒的位置和方向的高速纳米跟踪(High
‑
speed nanoscopic tracking of the position and orientation of a single virus)”，自然方法(Nature methods)2009 6：923
‑
935中，以及在Ortega Arroyo等人的“干涉散射显微术(IScat)：超快超灵敏光学显微术的新领域(interferometric scattering microscopy(iscat)：new front本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种通过干涉散射显微镜对样品成像的方法，所述方法包括：使用至少一个光源对样品进行照射，所述样品被保持在包括反射表面的样品位置处，使得形成反射信号，所述反射信号包括来自所述光源的光以及由所述样品散射的光；在第一帧N1的第一时间窗中检测输出光；在第二帧N2的第二时间窗中检测所述输出光；计算比率测量信号R，R为N1与N2的比减去1；根据本机相机帧N1和N2估计比率测量运动特征S＝(S
x
，S
y
)，S为比率测量图像，所述比率测量图像是根据沿x和y移动给定的运动矢量m＝(m
x
，m
y
)的不变样品所测量的；将m估计为最一致矢量，使得使用S和m来近似R；以及根据R、S和M，计算校正的比率测量对比度图像R*。2.根据权利要求1所述的方法，其中，根据本机图像N，估计像素位置(x，y)处的水平比率测量运动特征S
x
和垂直比率测量运动特征S
y
，如下：S
x
[x,y]＝(N[x+1,y]
‑
N[x
‑
1,y])/(2N[x,y])，S
y
[x,y]＝(N[x,y+1]
‑
N[x,y
‑
1])/(2N[x,y])。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，m被估计为所述最一致矢量，使得：R＝m
x
S
...

【专利技术属性】
技术研发人员：约西亚，
申请(专利权)人：雷费恩有限公司，
类型：发明
国别省市：