温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型公开了一种掩膜版上光学膜对中性测量装置，以解决采用接触式测量方式时光学膜对中性测量结果可靠度不高且容易对光学膜造成破坏的技术问题，该测量装置包括定位框体和数显传感器；所述定位框体具有定位部，所述定位部具有相互垂直的第一定位面和第二...
该专利属于成都路维光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都路维光电有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。