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本发明提出了一种用于探测器芯片的宽光谱背增透薄膜的制备方法,包括:将探测器芯片放置于腔室的工件盘上,并对腔室进行抽真空处理;利用镀膜材料以及预先配置的工艺参数,对探测器芯片进行镀膜,其中,镀膜材料包括硒化锌和氟化镱;待腔室冷却后,取出完成镀...该专利属于中国电子科技集团公司第十一研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第十一研究所授权不得商用。
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本发明提出了一种用于探测器芯片的宽光谱背增透薄膜的制备方法,包括:将探测器芯片放置于腔室的工件盘上,并对腔室进行抽真空处理;利用镀膜材料以及预先配置的工艺参数,对探测器芯片进行镀膜,其中,镀膜材料包括硒化锌和氟化镱;待腔室冷却后,取出完成镀...