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本发明涉及高压碳化硅芯片封装技术领域,具体涉及一种碳化硅芯片封装结构,包括:芯片本体,包括层叠设置的第一子芯片和第二子芯片,第一子芯片与第二子芯片之间设有芯片绝缘层,第一子芯片与第二子芯片之间串联,芯片导电件贯穿芯片绝缘层设置;印刷线路层,...该专利属于国家电网有限公司国网北京市电力公司所有,仅供学习研究参考,未经过国家电网有限公司国网北京市电力公司授权不得商用。
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