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一种To封装芯片老化检测抽屉制造技术
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下载一种To封装芯片老化检测抽屉的技术资料
文档序号:36005138
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本实用新型公开一种To封装芯片老化检测抽屉,包括底板;一对侧板对称设置在底板顶面两侧;前挡设置在底板前端与一对侧板配合密封;后档设置在底板后端;PCB板安装在一对侧板顶面;热沉块固定在PCB板上,热沉块上设有若干检测工位,每一检测工位设有供...
该专利属于天津市菲莱科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过天津市菲莱科技有限公司授权不得商用。
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