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本发明涉及一种存储器三单元耦合故障检测方法、终端设备及介质，该方法中提出了一种时间复杂度为58N的三单元耦合故障的高效检测算法，与现有检测算法对比，该算法具有更低的算法复杂度和更高的故障覆盖率，可以降低SRAM或DRAM存储器的检测成本。或...
该专利属于厦门大学所有，仅供学习研究参考，未经过厦门大学授权不得商用。

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