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本申请公开了一种自动光学检测设备、控制方法及存储介质，应用于光学检测领域，包括：检测装置用于获取工件的图像；卷料装置包括第一卷料组件和第二卷料组件，第一卷料组件用于将未检测的工件向第二卷料组件传输；控制装置用于在第一卷料组件输出的工件到达待...
该专利属于深圳市领略数控设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市领略数控设备有限公司授权不得商用。

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