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本发明公开了一种基于多探测器的X射线检测系统和方法，涉及缺陷检测技术领域，包括样品盘、第一传送装置、机械手、第二传送装置、X射线源和多探测器模组，样品盘由旋转驱动装置驱动旋转，第一传送装置用于将待测样品传送至匀速旋转的样品盘上，使多个待测样...
该专利属于苏州锂影科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州锂影科技有限公司授权不得商用。

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