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本实用新型公开了一种用于光芯片的抽屉式老化测试装置，属于光通信测试技术领域。本实用新型通过抽屉上盖将待测COB板压紧在加热板和加电探针阵列之间，通过加电探针阵列贯穿PD测量板、控制PCB板，使得待测COB板与控制PCB板电连接，通过PD测量...
该专利属于武汉固捷联讯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉固捷联讯科技有限公司授权不得商用。

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