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本发明的目的在于提供能高精度地判定电极的劣化状态的熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法。本发明的熔接系统(10)具备：熔接装置(1)，具有通过放电来进行光纤的熔接的第一电极(3c1)和第二电极(3c2)以及向第一电极(3c1)输出控制信号(S...
该专利属于住友电工光学前沿株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过住友电工光学前沿株式会社授权不得商用。

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