熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法制造方法及图纸

本发明专利技术的目的在于提供能高精度地判定电极的劣化状态的熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法。本发明专利技术的熔接系统(10)具备：熔接装置(1)，具有通过放电来进行光纤的熔接的第一电极(3c1)和第二电极(3c2)以及向第一电极(3c1)输出控制信号(S1)并且从第二电极(3c2)接收控制信号的反馈信号(S2)的放电电路(3d)；以及劣化判定部(23)，根据反馈信号(S2)的状态来判定第一电极(3c1)和第二电极(3c2)是否已劣化。第一电极(3c1)和第二电极(3c2)是否已劣化。第一电极(3c1)和第二电极(3c2)是否已劣化。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法


[0001]本公开涉及熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法。
[0002]本申请主张基于2020年4月30日申请的日本申请第2020－080375号的优先权，并援引记载于所述日本申请的全部记载内容。

技术介绍

[0003]在专利文献1中记载了熔接装置和熔接机的保养管理方法。熔接装置具备：熔接机，用于将光纤彼此熔接；以及数据管理终端机，经由I/O(Input/Output：输入/输出)电缆连接于熔接机。熔接机具备进行光纤的熔合的放电部。放电部具有对置配置于载置作为熔合对象的两根光纤的载台的一对电极，通过在一对电极之间施加电压而致使放电来将这两根光纤熔合。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开2003－287643号公报

技术实现思路

[0007]一个实施方式的熔接系统具备：熔接装置，具有通过放电来进行光纤的熔接的第一电极和第二电极以及向第一电极输出控制信号并且从第二电极接收控制信号的反馈信号的放电电路；以及劣化判定部，根据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种熔接系统，具备：熔接装置，具有通过放电来进行光纤的熔接的第一电极和第二电极以及向所述第一电极输出控制信号并且从所述第二电极接收所述控制信号的反馈信号的放电电路；以及劣化判定部，根据所述反馈信号的状态来判定所述第一电极和所述第二电极是否已劣化。2.根据权利要求1所述的熔接系统，其中，所述劣化判定部根据所述控制信号的状态和所述反馈信号的状态这双方来判定所述第一电极和所述第二电极是否已劣化。3.根据权利要求1或2所述的熔接系统，具备对多个所述反馈信号的每一个判定是否异常的信号判定部，所述劣化判定部基于被所述信号判定部判定为异常的所述反馈信号的数量来判定所述第一电极和所述第二电极是否已劣化。4.根据权利要求1至3中任一项...

【专利技术属性】
技术研发人员：铃木贵弘，大木一芳，大西隆治，游佐英明，
申请(专利权)人：住友电工光学前沿株式会社，
类型：发明
国别省市：