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本发明提供一种光学系统衍射杂散光分析方法，包括以下步骤：S1、在杂散光分析软件中建模光机系统；S2、通过杂散光分析软件对光机系统进行光线追迹，得到出射光线的出射光场；S3、将出射光线的信息录入至光线数据库，重复上述步骤2，直至所有出射光线能...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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