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本发明提供一种高速串行芯片误码率测试系统及方法,包括:高速串行芯片装置用于基于预设的FPGA收发器发送与接收高速串行数据;误码率测试模块用于通过预设的时钟源,测试和读取高速串行数据的误码率;校准模块用于根据所述误码率生成对应的校准参数,并通...该专利属于深圳市国芯物联科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市国芯物联科技有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种高速串行芯片误码率测试系统及方法,包括:高速串行芯片装置用于基于预设的FPGA收发器发送与接收高速串行数据;误码率测试模块用于通过预设的时钟源,测试和读取高速串行数据的误码率;校准模块用于根据所述误码率生成对应的校准参数,并通...